目标化合物两个批次样品（样品1和样品2）的XRPD谱图极其相似，两个样品的表征数据具有显著差异：TGA结果显示两个样品在100°C之前分别出现 1.5% 和 3% 的失重，由于样品的晶体结构未知，无法确认样品1和样品2是否为同一晶型。

  MicroED技术可用于区分结构高度相似的不同晶型，降低产品中存在混合晶型的风险：

• MicroED结果解释了样品1和样品2虽然具有相似XRPD光谱，但具有完全不同的晶体结构。
• 如果没有发现这两种结构，可能导致最终样品中含有混合晶型，进而影响理化性质与质量管控。
• 案例结果表明，在仅有粉末晶体样品时，MicroED是快速且有效判定多晶型晶体结构的有利方法。